Inductor тестер Graphic LCD-Display
⭐ транзисторный тестер
✅Can generate a signal of 1HZ-2MHz.
✅can generate a fixed frequency variable pulse width wave, short key width in 1% increments, the longer the key width of 10% increments.
✅can start a separate capacitance and ESR меню functions, ranges 2UuF-50mF, since the measurement Signal amplitude is only 300mV, so the road can be measured. (Since the non-4-wire measurements, measuring lead resistance may lead to large errors, especially small ESR measurements).п>
✅1 X транзисторный тестер
✅Operates with microcontrollers. Вывод на 128x64 graphic LCD-Display. One key operation with automatic power shutdown. Shutdown current is only about 20nA. Automatic detection of NPN and PNP bipolar transistors, N-и P-Channel MOSFETs, JFETs, diodes, double diodes, Thyristors and Triacs. Automatic detection of pin layout of the detected part.
✅Feature
✅- Color: As Shown.
✅ - материал: ЖК-печатная плата электронный компонент.
✅ - Size: 10 x 8 x 1 см.
✅- Can generate a signal of 1Hz-2MHz.
✅- Can generate a fixed frequency variable pulse width wave, short key width in 1% increments, the longer the key width of 10% increments.
✅ - Can start a separate capacitance and ESR меню functions, ranges 2UuF-50mF, since the measurement Signal amplitude is only 300mV, so the road can be measured. (Since the non-4-wire measurements, measuring lead resistance may lead to large errors, especially small ESR measurements).
✅- Measuring of current amplication factor and Base-Emitter threshold voltage of bipolar transistors. Дарлингтонские трансисторы могут быть идентифицированы по напряжению порога и высокому коэффициенту усиления тока.
✅Detection of the protection diode of bipolar transistors and MOSFETs.
✅- Measuring Of The Gate threshold voltage and Gate capacity value of MOSFETs.
✅ два резистора измеряются и показывают символы и значения четырех десятичных цифр в правильном измерении. All symbols are surrounded by the probe numbers of the Tester'S (1-3). Так что потенциометр также может быть измерен.
✅- Resolution of resistor measurement is now up to 0.01 ohms, values up to 50M ohms are detected.
✅- One capacitor can be detected and measured. Это показывает символ и значение четырех десятичных цифр в правильном измерении. Значение может быть от 25pF до 100mF. Разрешение может быть до 1pF .
✅- For capacitors with a capacity value above 5000pF The voltage loss after a load pulse can be determined. Voltage loss give a hint for the quality factor of the capacitor. LED is detected as diode, aux voltage is much higher than normal. Two-in-one LEDs also detected as two ledes.
✅ Zener - Diodes can be detected, if reverse break down Voltage is below 4.5 V. These are shown as two diodes, you can identify this part only by the voltages. Outer probe numbers, which surround The diode symbols, are identical in this case. Вы можете идентифицировать реальный анод диода только по одному с разрывом (порогом) напряжения около 700 МВ.
✅ - если больше, чем 3 диодных типа деталей обнаружены, то число диодов отображается дополнительно к ошибочному сообщению. Это может произойти только в том случае, если диоды прилагаются ко всем трем пробам и в меньшей степени один-диод. В этом случае вы должны только соединить два испытания и начать измерение снова, один после другого.
✅ - Measurement of the capacity value of a single diode in reverse direction. Биполярные переходники также могут быть проанализированы, если вы подключаете базу и коллектор или излучатель. меру необходимо найти соединения мостов.
✅- Capacitors with value below 25pF are usually not detectet, but can be measured together with a parallel diode or a parallel capacitor with at least 25pf. В этом случае вы должны subtract the capacity value of the parallel connected part.
✅- Testing time is about two seconds, only capacity or inductance measurement can cause longer period.
✅ программное обеспечение может быть сконфигурировано для включения серии измерений, прежде чем сила будет отключена.
✅Selectable facility calibrate the internal port resistance of port output and the zero offset of capacity measurement with the selftest . A external capacitor with a value between 100nf and 20 & amp; mu; F connected to pin 1 and pin 3 is necessary to compensate The offset voltage of the analog comparator. Это может уменьшить измерение ошибок емкости до 40& mu; F. с тем же capacitor, что и коррекция напряжения на внутреннюю ссылку напряжения найдена для регулировки усиления для АЦП измерения с внутренней ссылкой.
✅ - Display The Collector current ICE0 with currentless base (10 & amp;mu; a units) and Collector residual current ICES with Base hold to emitter level . This values are only shown, if they are not zero (especially for germanium transistors).
✅ Thyristors and Triacs can only be detected, if the test current is above the holding current. Некоторые тиристоры и Триаки нуждаются в более высоких воротах, чем этот тестер может доставить. The available testing current is only about 6mA.п>
⭐ LCR тестер
✅Description
✅Operates with microcontrollers. В результате получился графический ЖК-дисплей 128x64. One key operation with automatic power shutdown. Shutdown current is only about 20nA. Automatic detection of NPN and PNP bipolar transistors, N and PChannel MOSFETs, JFETs, diodes, double diodes, Thyristors and Triacs. Automatic detection of pin layout of the detected part.
✅Feature
✅ Color: As Shown.
✅ материал: ЖК-печатная плата электронный компонент.
✅ Size: 10 x 8 x 1 см.
✅ Can generate a signal of 1Hz2MHz.
✅ can generate a fixed frequency variable pulse width wave, short key width in 1% increments, the longer the key width of 10% increments.
✅ can start a separate capacitance and ESR меню functions, ranges 2UuF50mF, since the measurement Signal amplitude is only 300mV, so the road can be measured. (Since the non4wire measurements, measuring lead resistance may lead to large errors, especially small ESR measurements).
✅ Measuring of current amplication factor and BaseEmitter threshold voltage of bipolar transistors. Дарлингтонские трансисторы могут быть идентифицированы по напряжению порога и высокому коэффициенту усиления тока.
✅Detection of the protection diode of bipolar transistors and MOSFETs.
✅ Measuring Of The Gate threshold voltage and Gate capacity value of MOSFETs.
✅ два резистора измеряются и показывают символы и значения четырех десятичных цифр в правильном измерении. All symbols are surrounded by the probe numbers of the Tester'S (13). Так что потенциометр также может быть измерен.
✅ Resolution of resistor measurement is now up to 0.01 ohms, values up to 50M ohms are detected.
✅ One capacitor can be detected and measured. Это показывает символ и значение четырех десятичных цифр в правильном измерении. Значение может быть от 25pF до 100mF. Разрешение может быть до 1pF .
✅ for capacitors with a capacity value above 5000pF The voltage loss after a load pulse can be determined. Voltage loss give a hint for the quality factor of the capacitor. LED is detected as diode, aux voltage is much higher than normal. Twoinone LEDs also detected as two ledes.
✅ ZenerDiodes can be detected, if reverse break down Voltage is below 4.5 V. These are shown as two diodes, you can identify this part only by the voltages. Outer probe numbers, which surround The diode symbols, are identical in this case. Вы можете идентифицировать реальный анод диода только по одному с разрывом (порогом) напряжения около 700 МВ.
✅ If more than 3 diode Type parts are detected, the number of diodes is shown additionally to the fail message. Это может произойти только в том случае, если диоды прилагаются ко всем трем пробам и в меньшей степени один диод. В этом случае вы должны только соединить два испытания и начать измерение снова, один после другого.
✅ Measurement of the capacity value of a single diode in reverse direction. Биполярные переходники также могут быть проанализированы, если вы подключаете базу и коллектор или излучатель. меру необходимо найти соединения мостов.
✅ Capacitors with value below 25pF are usually not detectet, but can be measured together with a parallel diode or a parallel capacitor with at least 25pf. В этом случае вы должны subtract the capacity value of the parallel connected part.
✅ Testing time is about two seconds, only capacity or inductance measurement can cause longer period.
✅ программное обеспечение может быть сконфигурировано для включения серии измерений, прежде чем сила будет отключена.
✅Selectable facility calibrate the internal port resistance of port output and the zero offset of capacity measurement with the selftest . A external capacitor with a value between 100nf and 20 & amp; mu; F connected to pin 1 and pin 3 is necessary to compensate The offset voltage of the analog comparator. Это может уменьшить измерение ошибок емкости до 40& mu; F. с тем же capacitor, что и коррекция напряжения на внутреннюю ссылку напряжения найдена для регулировки усиления для АЦП измерения с внутренней ссылкой.
✅ Display The Collector current ICE0 with currentless base (10 & amp;mu; a units) and Collector residual current ICES with Base hold to emitter level . This values are only shown, if they are not zero (especially for germanium transistors).
✅ тиристоры и Триаки могут только быть обнаружены, если тестовый ток находится выше текущего холдинга. Некоторые тиристоры и Триаки нуждаются в более высоких воротах, чем этот тестер может доставить. The available testing current is only about 6mA.п>
| Состояние | Новый |
|---|

