Inductor тестер Graphic LCD-Display

⭐транзисторний тестер

⭐ комбінований компонентний тестер ⭐ LCR тестер ⭐ багатофункціональний тестер ⭐ ESR METER

⭐ транзисторний тестер

✅Can generate a signal of 1HZ-2MHZ.

✅can generate a fixed frequency variable pulse width wave, short key width in 1% increments, the longer the key width of 10% increments.

✅can start a separate capacitance and ESR меню functions, ranges 2uuf-50mf, since the measurement Signal amplitude is only 300mv, so the road can be measured. (Since the non-4-wire measurements, measuring lead resistance may lead to large errors, especially small ESR measurements).

⭐ package LIST

✅1 x транзисторний тестер

⭐ COMBO component test

✅Operates with microcontrollers. Висновок на 128x64 graphic LCD-Display. One key operation with automatic power shutdown. Shutdown current is only about 20nA. Automatic detection of NPN and PNP bipolar transistors, N - і P-Channel MOSFETs, JFETs, diodes, double diodes, Thyristors and Triacs. Automatic detection of pin layout of the detected part.

✅Feature

✅- Color: As Shown.

✅ - матеріал: РК-друкована плата Електронний компонент.

✅ - Size: 10 x 8 x 1 см.

✅ - Can generate a signal of 1HZ-2MHZ.

✅- Can generate a fixed frequency variable pulse width wave, short key width in 1% increments, the longer the key width of 10% increments.

✅ - Can start a separate capacitance and ESR меню functions, ranges 2uuf-50mf, since the measurement Signal amplitude is only 300mv, so the road can be measured. (Since the non-4-wire measurements, measuring lead resistance may lead to large errors, especially small ESR measurements).

✅- Measuring of current amplication factor and Base-Emitter threshold voltage of bipolar transistors. Дарлінгтонські трансистори можна ідентифікувати за напругою порогу та високим коефіцієнтом посилення струму.

✅Detection of the protection diode of bipolar transistors and MOSFETs.

✅- Measuring Of The Gate threshold voltage and Gate capacity value of MOSFETs.

✅ два резистори вимірюються і показують символи та значення чотирьох десяткових цифр у правильному вимірі. All symbols are surrounded by the probe numbers of the Tester'S (1-3). Так що потенціометр також може бути виміряний.

✅- Resolution of resistor measurement is now up to 0.01 ohms, values up to 50M ohms are detected.

✅- One capacitor can be detected and measured. Це показує символ і значення чотирьох десяткових цифр у правильному вимірі. Значення може бути від 25pf до 100mf. Дозвіл може бути до 1PF .

✅- For capacitors with a capacity value above 5000pF The voltage loss after a load pulse can be determined. Voltage loss give a hint for the quality factor of the capacitor. LED is detected as diode, aux voltage is much higher than normal. Two-in-one LEDs also detected as two ledes.

✅ Zener - Diodes can be detected, if reverse break down Voltage is below 4.5 V. These are shown as two diodes, you can identify this part only by the voltages. Outer probe numbers, which surround The diode symbols, are identical in this case. Ви можете ідентифікувати реальний анод діода тільки по одному з розривом (порогом) напруги близько 700 МВ.

✅ - якщо більше, ніж 3 діодних типу деталей виявлені, то число діодів відображається додатково до помилкового повідомленням. Це може статися тільки в тому випадку, якщо діоди додаються до всіх трьох проб і в меншій мірі один-діод. У цьому випадку ви повинні лише з'єднати два випробування і почати вимірювання знову, один після іншого.

✅ - Measurement of the capacity value of a single diode in reverse direction. Біполярні перехідники також можуть бути проаналізовані, якщо ви підключаєте базу і колектор або випромінювач. міру необхідно знайти з'єднання мостів.

✅- Capacitors with value below 25pF are usually not detectet, but can be measured together with a parallel diode or a parallel capacitor with at least 25pf. У цьому випадку ви повинні subtract the capacity value of the parallel connected part.

✅- Testing time is about two seconds, only capacity or inductance measurement can cause longer period.

✅ програмне забезпечення може бути налаштоване для включення серії вимірювань, перш ніж сила буде відключена.

✅Selectable facility calibrate the internal port resistance of port output and the zero offset of capacity measurement with the selftest . A external capacitor with a value between 100nf and 20 & amp; mu; F connected to pin 1 and pin 3 is necessary to compensate The offset voltage of the analog comparator. Це може зменшити вимірювання помилок ємності до 40 & amp; mu; F. з тим же capacitor, що і корекція напруги на внутрішню посилання напруги знайдена для регулювання посилення для АЦП вимірювання з внутрішньої посиланням.

✅ - Display The Collector current ICE0 with currentless base (10 & amp;mu; a units) and Collector residual current ICES with Base hold to emitter level . This values are only shown, if they are not zero (especially for germanium transistors).

✅ Thyristors and Triacs can only be detected, if the test current is above the holding current. Деякі тиристори і Тріаки потребують більш високих воріт, ніж цей тестер може доставити. The available testing current is only about 6mA.

⭐ LCR тестер

✅Description

✅Operates with microcontrollers. В результаті вийшов графічний РК-дисплей 128x64. One key operation with automatic power shutdown. Shutdown current is only about 20nA. Automatic detection of NPN and PNP bipolar transistors, N and PChannel MOSFETs, JFETs, diodes, double diodes, Thyristors and Triacs. Automatic detection of pin layout of the detected part.

✅Feature

✅ Color: As Shown.

✅ матеріал: РК-друкована плата Електронний компонент.

✅ Size: 10 x 8 x 1 см.

✅ Can generate a signal of 1hz2mhz.

✅ can generate a fixed frequency variable pulse width wave, short key width in 1% increments, the longer the key width of 10% increments.

✅ can start a separate capacitance and ESR меню functions, ranges 2uuf50mf, since the measurement Signal amplitude is only 300mv, so the road can be measured. (Since the non4wire measurements, measuring lead resistance may lead to large errors, especially small ESR measurements).

✅ Measuring of current amplication factor and BaseEmitter threshold voltage of bipolar transistors. Дарлінгтонські трансистори можна ідентифікувати за напругою порогу та високим коефіцієнтом посилення струму.

✅Detection of the protection diode of bipolar transistors and MOSFETs.

✅ Measuring Of The Gate threshold voltage and Gate capacity value of MOSFETs.

✅ два резистори вимірюються і показують символи та значення чотирьох десяткових цифр у правильному вимірі. All symbols are surrounded by the probe numbers of the Tester'S (13). Так що потенціометр також може бути виміряний.

✅ Resolution of resistor measurement is now up to 0.01 ohms, values up to 50M ohms are detected.

✅ One capacitor can be detected and measured. Це показує символ і значення чотирьох десяткових цифр у правильному вимірі. Значення може бути від 25pf до 100mf. Дозвіл може бути до 1PF .

✅ for capacitors with a capacity value above 5000pF The voltage loss after a load pulse can be determined. Voltage loss give a hint for the quality factor of the capacitor. LED is detected as diode, aux voltage is much higher than normal. Twoinone LEDs also detected as two ledes.

✅ ZenerDiodes can be detected, if reverse break down Voltage is below 4.5 V. These are shown as two diodes, you can identify this part only by the voltages. Outer probe numbers, which surround The diode symbols, are identical in this case. Ви можете ідентифікувати реальний анод діода тільки по одному з розривом (порогом) напруги близько 700 МВ.

✅ If more than 3 diode Type parts are detected, the number of diodes is shown additionally to the fail message. Це може статися тільки в тому випадку, якщо діоди додаються до всіх трьох проб і в меншій мірі один діод. У цьому випадку ви повинні лише з'єднати два випробування і почати вимірювання знову, один після іншого.

✅ Measurement of the capacity value of a single diode in reverse direction. Біполярні перехідники також можуть бути проаналізовані, якщо ви підключаєте базу і колектор або випромінювач. міру необхідно знайти з'єднання мостів.

✅ Capacitors with value below 25pF are usually not detectet, but can be measured together with a parallel diode or a parallel capacitor with at least 25pf. У цьому випадку ви повинні subtract the capacity value of the parallel connected part.

✅ Testing time is about two seconds, only capacity or inductance measurement can cause longer period.

✅ програмне забезпечення може бути налаштоване для включення серії вимірювань, перш ніж сила буде відключена.

✅Selectable facility calibrate the internal port resistance of port output and the zero offset of capacity measurement with the selftest . A external capacitor with a value between 100nf and 20 & amp; mu; F connected to pin 1 and pin 3 is necessary to compensate The offset voltage of the analog comparator. Це може зменшити вимірювання помилок ємності до 40 & amp; mu; F. з тим же capacitor, що і корекція напруги на внутрішню посилання напруги знайдена для регулювання посилення для АЦП вимірювання з внутрішньої посиланням.

✅ Display The Collector current ICE0 with currentless base (10 & amp;mu; a units) and Collector residual current ICES with Base hold to emitter level . This values are only shown, if they are not zero (especially for germanium transistors).

✅ тиристори і Тріаки можуть тільки бути виявлені, якщо тестовий струм знаходиться вище поточного холдингу. Деякі тиристори і Тріаки потребують більш високих воріт, ніж цей тестер може доставити. The available testing current is only about 6mA.